Kategorie: / Technika:

EDS systém BRUKER XFlash 630 H

Jednoduchá prvková mikroanalýza ve stolních elektronových mikroskopech

Přidáním energiově rozlišené rentgenové spektroskopie (EDS) do Vašeho stolního elektronového mikroskopu získáte silný analytický nástroj nyní rozšířený o řadu možností použití pro pokročilou mikroanalýzu a prvkovou analýzu. Při implementaci do stolních mikroskopů SEC je EDS signál je sbírán pod optimální pevným úhlem na rozdíl od některých jiných SEM designů, které mají úhel sběru signálu velmi blízko rovině vzorku. To v kombinaci s velkou plochou detektoru zajištuje výborný signál pro rychlou a spolehlivou analýzu.

Hlavní technické parametry: BRUKER XFlash 630 H

•   Rychlý SDD detektor bez nutnosti chlazení kapalným dusíkem
•   Rozlišení energie lepší než 129 eV (pro Mn K alpha)
•   plocha detektoru 30 mm2
•   detekce prvků v rozmezí 5B - 95Am
•   maximální intenzita signálu > 150 kcps
•   software umožňuje kvalitativní a kvantitativní analýzu, mapování po čáře nebo ploše


Měřicí technika Morava s.r.o. | Babická 619 | 664 84 Zastávka u Brna | tel.: + 420 513 034 408 | e-mail: info@mt-m.eu

Created by> eX-press.cz