Kategorie: / Technika:

SNE-3000MB

Stolních elektronový mikroskop pro snadné použití

Zařízení řady SNE-3000MB představují základní řadu cenově dostupných stolních elektronových mikroskopů, které mohou zobrazovat povrch se zvětšením až 30 000x v režimu zpětně odražených elektronů (BSE). Alternativní variantou s detektorem sekundárních elektronů (SE) je SNE-3000MS, případně s oběma detektory SNE-3200M.

Mikroskop cílí zejména na uživatele, kteří vyžadují rutinní inspekci vzorků ve vysokém rozlišením. Této filosofii odpovídá i design a software zaměřený na vysokou produktivitu a snadnost použití. Všechny běžné hlavní ladící parametry (ostrost, kontrast a jas) mohou být použity v automatickém režimu zajišťující komfortní použití i pro začínající uživatele.

Pohyb vzorku v mikroskopu je možný ve třech osách - X, Y a R - otáčení v rovině držáku vzorku (manuální).

Hlavní technické parametry:

Elektronový systém:

•   Rozlišení: 20 nm (30 kV, mód BSE)
•   Zvětšení: 20x - 30 000x (30 kV,  mód BSE)
•   Urychlovací napětí: 1 - 30 kV (1/5/10/15/20/30 kV)
•   Detektor: pro zpětně odražené elektrony
•   Zdroj elektronů: wolframové vlákno

Pohyb vzorku:     

•   tříosový systém: X, Y, R - manuální
•   Maximální velikost vzorku: 70 mm v průměru, výška 30mm

Automatické funkce Auto Start, Auto Focus, Auto Stigmator, Auto Contrast & Brightness

Vakuový systém: pro vysoké vakuum
Čerpání rotační/turbomolekulární vývěva (plně automatické)

Rozměry:

•   Hlavní jednotka: 390 x 560 x 380 mm (šířka x výška x hloubka), 83 kg
•   Kontrolní jednotka: 390 x 560 x 325 mm (šířka x výška x hloubka), 37 kg
•   Rotační vývěva: 400 x 340 x 160 mm (šířka x výška x hloubka), 24 kg

Pro další informace prosím navštivte stránky výrobce SNE-3000MB, nebo se obraťte na nás.

Volitelné příslušenství

Naprašovačky 

Energiově rozlišená rentgenová spektroskopie:

EDAX Element SDD series

BRUKER XFlash 630 H


Měřicí technika Morava s.r.o. | Babická 619 | 664 84 Zastávka u Brna | tel.: + 420 513 034 408 | e-mail: info@mt-m.eu

Created by> eX-press.cz